2007年10月22日，美国Phenotype Screening公司（PSC）总裁Daniel W. McDonald先生一行访问了泽泉科技有限公司，并对泽泉科技销售和技术人员进行了植物根系X-光扫描成像分析系统RootViz FS的产品培训。
美国PSC公司的植物根系X-光扫描成像分析系统是一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统，用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析，可以拍摄根系的立体X-光照片。它是植物根系研究领域继根视（rhizotron）系统后最激动人心的发明。今年6月，这套系统刚刚获得2006年度美国R&D 100发明大奖。自RootViz FS面世不久，泽泉科技就与PSC公司建立了密切的合作关系。这次借PSC随田纳西州“中国商务代表团”访华之机，泽泉科技与PSC公司学合作，分别在中科院植物研究所、西北农林科技大学和兰州大学举办了三场技术讲座。
为加深对RootViz FS的了解，泽泉科技北京分部和成都分部同事均返回上海总部，参加了McDonald先生的培训。江苏大学相关专家也赶来参加了此次培训。这次培训反响十分热烈，大家对RootViz FS的强大功能交口称赞，对其市场前景具有良好的预期。
本次访问加深了PSC公司对泽泉科技的了解，McDonald先生对泽泉科技的工作给予极高评价。同时，泽泉科技与PSC公司签署了进一步合作的备忘录。
Phenotype Screening公司访问泽泉科技
作者：上海泽泉科技股份有限公司 2007-10-23T00:00 (访问量:2850)
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