晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术, 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术,可同时探测收集激光的反射光,透射光以及共聚焦,可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面,背面和内部的缺陷,可探测最小缺陷为10
温度冲击试验箱/温度冲击试验机
高温箱温度范围 +60℃~150℃ 低温箱温度范围 -64℃~-10℃ 转换时间 ≤15s 控制点温度恢复时间 ≤5min 工作空间温度恢复时间 ≤20min 温度波动度 ±0.5
洛氏硬度机
HR-150A洛氏硬度机,是一种机械式手动测试,无电器装置的普及型硬度计,具有良好的经济性和实用性,使用范围广,操作简便等特点。 本机全手动操作,不需外接电源。方便耐用。深圳地区销量前列。
全自动进样器
l样瓶数量:14*14=196个;l样瓶容积:12毫升;l电源输入:AC220V;l控制器显示:蓝色TFT液晶屏;l产品尺寸:490mm*482mm*330mm;